Монокристальный дифрактометр Agilent Technologies (Oxford Diffraction) «Supernova»

Система SuperNova представляет новейшее поколение систем с двумя фиксированными значениями длины волны, в ней использованы все достижения системы Gemini компании Agilent Technologies двумя различными источниками рентгеновского излучения. Система предназначена для прецизионного исследования монокристаллов с большими ячейками, в том числе, биологических макромолекулярных структур.

Основные технические характеристики:

• Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα;
• Номинальный режим работы источников рентгеновского излучения: 40 кВ/1.5 мА;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: двумерный высокоскоростной CCD;
• Многослойная рентгеновская оптика для повышения интенсивности и выполняющая функции монохроматора (выделяет из общего спектра источника дуплет линий К(альфа1)/К(альфа2));
• Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр с изменяемым углом вращения кристалла вокруг оси гониометрической головки (CHI):
  • диапазон изменения угла 2ϴ от -180 до +215°;
  • свободное вращение по углу омега;
  • шаг измерений по осям два тэта 2ϴ и омега не более 0,00125 градуса;
  • разрешение на молибденовом излучении не более 0.40 Å в диапазоне от 130 до135° по 2θ.
• Низкотемпературная система Oxford Cryosystems Cryostream с температурным диапазоном 80 – 500 K.
• Видео-микроскоп, закрепленный непосредственно на гониометре и оснащенный средствами измерения геометрических размеров анализируемых образцов с точностью 10 мкм.

Программное обеспечение:

Специализированный пакет программ CRYSALISpro позволяет выполнять автоматический поиск дифракционных пиков с заданными параметрами, автоматически определять и уточнять параметры элементарной ячейки, проводить интегрирование массива дифракционных данных, проводить анализ и обработку данных диффузного рассеяния, учет поглощения по реальной форме кристалла, численный учет поглощения, шкалирование и учет поглощения на основании данных по интенсивности симметрично-связанных отражений, измеренных при различных ориентациях кристалла; расчет геометрических характеристик объектов (площадь, периметр, фактор формы, ориентация, длина, ширина).

Информация от производителя оборудования:

• http://www.chem.agilent.com/en-US/products-services/Instruments-Systems/X-Ray-Crystallography/SuperNova-Dual-Wavelength-Diffractometer-Platform/Pages/default.aspx
• http://www.chem.agilent.com/Library/brochures/X-ray_Portfolio_Brochure_5991-0061EN_LO.pdf

Размещение: