Исследования

Рентгеноструктурный анализ (РСА). Расшифровка и уточнение кристаллической структуры

Определение линейных и угловых параметров элементарной ячейки, а также симметрии и пространственной группы кристаллических веществ по данным монокристальной рентгенографии. Определение координат атомов в элементарной ячейке и параметров их тепловых колебаний. Определение межатомных расстояний и угловых характеристик для различных химических связей. Уточнение заселенности позиций, занимаемых атомами (в случае твердых растворов). Описание геометрических характеристик координационных полиэдров и способов их объединения (структурного мотива) в рамках кристаллохимического анализа. Расчет теоретической дебаеграммы (рентгенограммы порошка) по данным РСА. Подробнее →

Фазовый анализ. Рентгенофазовый качественный и/или количественный анализ

Идентификация различных кристаллических фаз и определение их относительных концентраций в смесях на основе анализа дифракционной картины, регистрируемой от исследуемых порошковых образцов. Прецизионное определение параметров элементарной ячейки известного вещества с целью обнаружения и определения концентраций изоморфных примесей. Индицирование рентгенограмм, определение параметров и возможной пространственной группы для новых соединений. Полнопрофильный анализ рентгенограммы порошкового образца, включающий уточнение кристаллической структуры вещества и определение некоторых характеристик дефектной субструктуры. Подробнее →

Терморентгенография. Фазовый качественный и/или количественный анализ в интервале температур -180 – 1600°С

Позволяет получать информацию о температуре фазового перехода, наиболее достоверно интерпретировать разнообразные превращения: «твердое тело – твердое тело» (полиморфные переходы, распад и образование химических соединений и твердых растворов, аморфизация), «твердое тело – жидкость» (конгруэнтное, эвтектическое и перитектическое плавление, плавление твердых растворов, кристаллизация из расплава), «твердое тело – газ» (гидратация, дегидратация, потеря других, помимо H2O и OH, летучих компонентов). Подробнее →

Рентгеновская дифракция высокого разрешения (HRXRD), рефлектометрия (XRR), исследование текстур, остаточных напряжений, микроструктурный анализ

Исследования поверхностей и интерфейсов эпитаксиальных моно- и поликристаллических, а также аморфных слоев и гетероструктур. Определение толщин слоев, шероховатости границ раздела и поверхностей, определение ориентировки монокристаллов, величины рассогласования параметров элементарных ячеек гетерослоя и подложки, состава твердых растворов, степени кристалличности, плотности дислокаций, а также прецизионное определение параметров элементарной ячейки. Неразрушающий контроль массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики. Определение текстурных характеристик и остаточных напряжений в металлических и керамических образцах. Микроструктурный анализ – определение параметров мозаичной структуры и микронапряжений как в массивных образцах, так и в ультрадисперсных наночастицах. Подробнее →

Спектроскопия в УФ и видимом диапазоне, ИК-спектроскопия, дифференциальная сканирующая калориметрия и термогравиметрический анализ.

Вспомогательные методы, позволяющие получать дополнительные данные, необходимые для правильной интерпретации результатов рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа. Подробнее →