Мы рады Вас приветствовать на сайте ресурсного центра «Рентгенодифракционные методы исследования» Научного парка Санкт-Петербургского государственного университета.
Целью деятельности ресурсного центра «Рентгенодифракционные методы исследования» является научное и методическое обеспечение исследований с использованием комплекса методов исследования вещества, основанных на рентгеновской дифракции, рентгеновской микротомографии и изотопии. Центр оборудован самым современным оборудованием, и по диапазону предоставляемых методик мы являемся единственным в России центром такого рода. Мы работаем в большинстве областей материаловедения, гидрогеологии, физики и химии твердого тела, в областях связанных с разработкой новых материалов, исследованиями наносистем и наноматериалов, а также синтезом биологически активных веществ и современных лекарственных препаратов.
Ресурсные центры Научного парка СПбГУ функционируют на основе принципа общего доступа, который подразумевает возможность использования их ресурсов всеми заинтересованными лицами, вне зависимости от того, являются ли они сотрудниками, учащимися СПбГУ или нет - при соблюдении ряда установленных правил.
Заявку на исследования сотрудники СПбГУ могут подать через «систему регистрации заявок», а внешние пользователи, перейдя по ссылке.
Официальные документы о РЦ, презентационные материалы и "Правила работы в системе регистрации заявок" Вы сможете найти в разделе Документы.
Дифракция рентгеновских лучей (англ. X-ray diffraction сокр., XRD) - рассеяние рентгеновских лучей кристаллами (или молекулами жидкостей и газов), при котором из первичного пучка лучей возникают вторичные отклонённые пучки той же длины волны, появившиеся в результате взаимодействия первичных рентгеновских лучей с электронами вещества. Направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения рассеивающего объекта.
В ресурсном центре «Рентгено-дифракционные методы исследования» Научного парка СПбГУ прошла испытания, калибровки и введена в эксплуатацию микрофокусная рентгеновская система. В ее состав входит микрофокусный источник рентгеновского излучения высокой интенсивности с молибденовым анодом и автономная система стабилизации температуры образца.