Мы рады Вас приветствовать на сайте ресурсного центра «Рентгенодифракционные методы исследования» Научного парка Санкт-Петербургского государственного университета.

Целью деятельности ресурсного центра «Рентгенодифракционные методы исследования» является научное и методическое обеспечение исследований с использованием комплекса методов исследования вещества, основанных на рентгеновской дифракции, рентгеновской микротомографии и изотопии. Центр оборудован самым современным оборудованием, и по диапазону предоставляемых методик мы являемся единственным в России центром такого рода. Мы работаем в большинстве областей материаловедения, гидрогеологии, физики и химии твердого тела, в областях связанных с разработкой новых материалов, исследованиями наносистем и наноматериалов, а также синтезом биологически активных веществ и современных лекарственных препаратов.

Ресурсные центры Научного парка СПбГУ функционируют на основе принципа общего доступа, который подразумевает возможность использования их ресурсов всеми заинтересованными лицами, вне зависимости от того, являются ли они сотрудниками, учащимися СПбГУ или нет - при соблюдении ряда установленных правил.

Заявку на исследования сотрудники СПбГУ могут подать через «систему регистрации заявок», а внешние пользователи, перейдя по ссылке.

Официальные документы о РЦ, презентационные материалы и "Правила работы в системе регистрации заявок" Вы сможете найти в разделе Документы.


Дифракция рентгеновских лучей (англ. X-ray diffraction сокр., XRD) - рассеяние рентгеновских лучей кристаллами (или молекулами жидкостей и газов), при котором из первичного пучка лучей возникают вторичные отклонённые пучки той же длины волны, появившиеся в результате взаимодействия первичных рентгеновских лучей с электронами вещества. Направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения рассеивающего объекта.

Новости



Текущие дела

В ресурсном центре «Рентгено-дифракционные методы исследования» Научного парка СПбГУ введен в эксплуатацию уникальный рентгеновский дифрактометр Rigaku XtaLAB Synergy-S производства ведущего мирового производителя - Rigaku Oxford Diffraction. Его уникальность заключается в использовании специально разработанного высокостабильного острофокусного источника рентгеновского излучения PhotonJet-S, нового высокоскоростного детектора HyPix-6000HE прямого действия и двух систем стабилизации температуры исследуемого образца. Первая, хорошо нам знакомая система Oxford Cryostream 800, позволят проводить исследования при температурах от 80 до 500 K, а вторая, уникальная система производства компании FMB Oxford, позволяет исследовать поведение кристаллической структуры при температурах от 100 до 1000 °С.

Ученые СПбГУ получили возможность проводить исследования как неорганических, так и органических соединений на принципиально новом уровне и получать результаты за существенно меньшее время.

Подробнее

К архиву новостей